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HLDZ-I開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀設(shè)備 產(chǎn)品簡(jiǎn)述

具有以上特點(diǎn)：

（1）閃存式CPU。

（2）嵌入式微型打印機(jī)。

（3）測(cè)試電流  2002A型100A  測(cè)試電流

               2002B型 200A  測(cè)試電流

（4）回路電阻值和測(cè)試電流值顯示、打印輸出。

（5） HLDZ-I開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀設(shè)備測(cè)試線無(wú)級(jí)性。

（6）測(cè)試電流自動(dòng)鎮(zhèn)定，無(wú)需人工調(diào)節(jié)。

（7）采用四端子接線法，有效地排除測(cè)試線電阻的影響。

（8）體積小，重量輕。

測(cè)試步驟：

1 .將交流電源線、電流線、測(cè)試線接到各自插座中。采用四端子接線法與被測(cè)電阻相連接。
2. 接通電源開(kāi)關(guān)，電流值顯示為“0 0”，微歐值無(wú)顯示，按下測(cè)試鈕，指示燈熄滅，隨后便可得到回路電阻的微歐值及測(cè)試電流值。以便于觀察和記錄，回路電阻值是鎖存的，測(cè)試電流值不鎖存。待指示燈亮后，便可再次按下測(cè)試鈕，以進(jìn)行再次測(cè)試。
3. 對(duì)每一被測(cè)電阻按上述方法重復(fù)測(cè)試3次，（調(diào)整電流值100A）取其算術(shù)平均值作為被測(cè)電阻的阻值。

 HLDZ-I開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)：

使用環(huán)境：溫度-5~50℃；相對(duì)濕度<80%。無(wú)腐蝕性氣體及導(dǎo)電塵埃影響。
測(cè)試電流：分200A和100A（2種機(jī)型）
測(cè)量范圍：1—2200μΩ
分 辨 率：1μΩ
準(zhǔn) 確 度：0.5%
顯示方式：屏幕顯示，操作引導(dǎo)
工作方式：連續(xù)
電    源：交流220V±10%  50Hz
體    積：270mm×220mm×220mm
重    量：3kg